Applied Spectra J200 tandem LA/LIBS
Elemanalitikai rendszerünkben a mintavétel nanoszekundumos lézeres ablációval történik, majd a kapott mintán az eszköz képes plazma-tömegspektroszkópiai és lézerindukált plazma spektroszkópiai méréseket szimultán elvégezni. Míg az előbbi a nagy rendszámú elemek mintabeli koncentrációját képes akár ppb pontossággal meghatározni, az utóbbi a kis rendszámú elemek koncentrációjának nagy pontosságú mérésére alkalmas, együttesen meghatározva a vizsgált anyag elemösszetételét. Az ablációs fókuszfolt átmérője elég kicsi ahhoz, hogy durvább szerkezetű mintáknál a kapott adatokból akár a minta szöveti szerkezetére is következtethetünk.
Specifikációk:
Abláló impulzus tulajdonságai:
Hullámhossz: 216 nm, 266 nm
Impulzushossz: 5 ns, ismétlési frekvencia 20 Hz
Max. energia: 4,5 mJ/25 mJ
Térbeli feloldás: 5 – 150 µm
Max. mintaméret: 100 mm×100 mm×35 mm
INSTRON ElectroPuls E3000 dinamikus teszter
Elektrodinamikus teszterünk egy korszerű vizsgálóműszer, amelyet az anyagok és alkatrészek széles skáláján történő nagyfrekvenciás dinamikus (fárasztását) és lassú sebességű statikus mechanikai tesztelését egyaránt lehetővé teszi.
Specifikáció:
Max. statikus terhelés: 2500 N
Lineáris lökethossz: 25 mm
Optikai 3D mikroszkóp
Az Olympus DSX510-MR optikai 3D mikroszkóp a fókuszsík függőleges mozgatásával és a képmező laterális pásztázásával képes automatizált fotosorozatok rögzítésére. A kapott fényképsorozatok szoftveres összeillesztésével alkalmas 3D profilok felvételére 100 cm2 területen, a diffrakciós limitnek megfelelő vízszintes (< 1 µm) és függőleges (< 0,2 µm) feloldással, a szubmilliméteres mérettartományba tolva ki 3D szkennereink mérési tartományát. Anyagvizsgálati célokra a reflexiós megvilágítás mellett sötét látóterű kivilágítás, polarizációs- és differenciális interferencia kontraszt (DIC) üzemmód is elérhető.
Specifikációk:
Mért tárgy max. súly: 1 kg
Legnagyobb mintaméret (X×Y×Z): 100 mm ×100 mm × 65 mm
